//Анализ и наблюдение за дискретными (альтернативными) признаками

Код семинара: 014-STM

Лектор: Локтев Д.А.

Длительность: 2 дня, с 9:00 до 17:00

Место проведения: Учебный центр Группы Технополис или на территории заказчика.

Получение сертификата

Тематика семинара

Передаются знания и навыки при выборе и применении контрольных карт для дискретных признаков. Для достижения полного понимания этих методов участниками, математико-статистические основы рассматриваются в доступной форме. Также представляются методы определения оценки несоответствий, такие, как оценка карт учета дефектов методом Парето. Расчеты и оценка контрольных карт качества отрабатываются на ситуационных примерах и в упражнениях при помощи программного обеспечения qs-STAT®.

При оценке стабильности и пригодности производственных процессов, а также при их текущем контроле на переднем плане по праву находятся непрерывные (измеримые) признаки продукта и процесса. Но в большинстве процессов возникают также и такие признаки продукта, которые могут оцениваться только в категории «без дефектов» / «с дефектами» (в норме / не в норме). В отдельных процессах несоответствия считаются также относительно определенной единицы, к примеру, площади. Зачастую несоответствия определяются путем осмотра человеческим глазом или автоматической оптической инспекции и классифицируются по различным типам несоответствий, таким как «образование заусенцев», «царапины», «включения», «изменение цвета» и т.д.

На семинаре рассматривается вопрос, как подобные признаки могут быть обработаны при помощи методов контроля и управления процессами, а также для оценки пригодности технологического процесса.

Программа семинара

  • Виды признаков — Отделение от непрерывных признаков — Количество несоответствующих единиц — Количество несоответствий на единицу
  • Виды несовершенств поверхности (ранее дефектов поверхности) согласно стандарту DIN EN ISO 8785
  • Модели распределения — Биномиальное распределение для количества несоответствующих единиц — Распределение Пуассона для количества несоответствий на единицу — Оценка параметров из выборки
  • Расчеты и интерпретация доверительного интервала и диапазона случайного рассеяния

  • Вычисление и применение контрольных карт — np- и p-карты для признаков с биномиальным распределением — u- и c-карты для признаков с распределением Пуассона — Оперативные характеристики и необходимый объем выборки — Примеры с использованием qs-STAT®
  • Оценка процесса для альтернативных признаков — Аспекты определения критериев несоответствия и анализа систем проверки — Показатели «средней доли несоответствующих единиц» или «средней доли несоответствий на единицу» — Применение контрольных карт для оценки стабильности процесса — Расчет показателей пригодности для альтернативных признаков
  • Карты учета дефектов — Структура и сбор данных — Оценка при помощи контрольных карт